硬件級降噪：選用高靈敏度、低噪聲光學元器件，從信號采集端抑制干擾源。
算法級抗擾：DU創(chuàng)多參數(shù)反演算法，可有效抵消振動、溫濕度波動等外部擾動，確保測量結果重復性≤0.05nm。
結構優(yōu)化：緊湊型光學系統(tǒng)設計，支持狹小空間安裝（如生產(chǎn)線夾縫），且防護等級達 IP40，適應粉塵、電磁干擾等工業(yè)環(huán)境。
| 核心指標 | 彌散光斑型（LTP-T10-UV-VIS） | 聚焦光斑型（LTVP-TVF） |
|---|
| 測量范圍 | 20nm~50μm（n=1.5 時） | 同左 |
| 重復精度 | 0.05nm（100nm SiO?標準件，1000 次采樣） | 同左 |
| 準確度 | <±1nm 或 ±0.3%（取最大值） | 同左 |
| 光源波長 | 190-2500nm（氘燈 + 鹵素燈組合） | 同左 |
| 測量角度 | ±10°（建議恒定） | ±5°（建議恒定） |
| 光斑特性 | 10mm 距離時直徑約 4mm（大面積覆蓋） | 直徑約 200μm（微米級聚焦） |
| 安裝距離 | 5~10mm（靈活適配） | 軸向 55mm±2mm / 徑向 34.5mm±2mm（需精準定位） |
| 物理尺寸 | φ6.35×3200mm（含線），重 190g | φ20×73mm（探頭），附加鏡 49g |
| 環(huán)境耐受 | 10~40℃，20%-85% RH（無冷凝） | 同左 |
多層膜厚同步測量：支持 2-5 層透明 / 半透明膜結構（如 OLED 有機層、PCB 阻焊層）的厚度與折射率解算，單次測量即可完成全層分析。
硬質薄膜兼容：針對陶瓷涂層、電鍍層等硬質材料，優(yōu)化光學反射模型，避免接觸式測量損傷風險。
非接觸式檢測：純光學反射原理，適用于柔性材料（如鋰電池電極涂布層、生物芯片薄膜），杜絕物理接觸形變誤差。
半導體與光伏：
顯示面板制造：
精密涂布與噴涂：
汽車油漆涂層厚度檢測，電子器件防水膜均勻性分析；
鋰電池極片涂布厚度在線測量，提升電池一致性。
科研與特種領域：
| 應用場景 | 推薦探頭類型 | 核心優(yōu)勢 | 安裝要點 |
|---|
| 大面積快速掃描 | 彌散光斑型（LTP-T10） | 光斑覆蓋廣，安裝距離靈活（5-10mm） | 需保持測量角度≤±10° |
| 微小區(qū)域精密測量 | 聚焦光斑型（LTVP-TVF） | 微米級光斑，精度更高（±5° 測量角度） | 需嚴格控制軸向 / 徑向安裝距離 |
| 定制化遠距檢測 | 聚焦光斑型（定制款） | 工作距離可擴展至 35-200mm（需提前預定） | 聯(lián)系銷售團隊確認光學附件配置 |
泓川科技LT-R 系列白光干涉測厚儀，憑借寬光譜光源技術、抗干擾系統(tǒng)設計及智能化軟件生態(tài)，重新定義了工業(yè)膜厚測量的精度邊界。其緊湊的體積與靈活的集成能力，既適用于實驗室研發(fā)的精密分析，也可無縫嵌入生產(chǎn)線實現(xiàn)在線檢測。無論是半導體芯片的納米級工藝控制，還是顯示面板的微米級膜層均勻性管理，這款設備均能以可靠的數(shù)據(jù)支撐，助力企業(yè)實現(xiàn)工藝革新與品質躍升。
關鍵詞：白光干涉測厚儀、泓川科技、納米精度、多層膜檢測、工業(yè)級抗干擾、半導體量測
更新時間：2025-05-27
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